新一代SSD控制器的内存测试解决方案 - 安防知识网

「多通道写入」与「磨损平衡技术的演算就考验了控制器厂商的功力，也决定了SSD的寿命与效能。然而，这样独家「算法」需要存储于内存，而控制器往都需要整合先进制程的内存。

　　固态硬盘(SSD)是一种以内存作为永久性内存的电脑存储装置，相对于一般传统硬盘来说，速度是最大的特色与诱因，而由于近年来价格愈来愈便宜、容量愈来愈大，SSD的使用者也愈来愈普及。和传统硬盘相比，SSD具有低功耗、无噪音、抗震动、低热量的特点。这些特点不仅使得资料能更加安全地得到保存，也延长了靠电池供电的设备之连续运转时间。

　　最初的SSD容量少，价钱高，远不及传统的机器性硬盘。但随着SSD的不断发展，容量已具实用性，价钱明显下滑之下，已为传统硬盘市场制造危机。随着各式移动式装置的蓬勃发展，SSD的需求与日俱增。

　　SSD开始进入市场时，起初使用SLC (Single-Level Cell)Flash与MLC（Multi-LevelCell）Flash两种，两者的差异在于写入寿命与价格，SLC Flash的写入寿命优于MLC Flash，MLC Flash的价格则优于SLC Flash，而后来又发明了TLC Flash，TLC Flash的写入寿命又少于MLC Flash。简单来说，使用SLC Flash的叫SLC SSD，使用MLC Flash的叫MLC SSD，而使用TLC Flash的叫TLC SSD。目前来说，使用TLC Flash的主要是随身碟，为了降低成本，与提供更便宜的售价，不少设备已经采用TLC Flash。

　　近年来SSD产品在效能方面有突飞猛进的发展，就是因为「控制器(Controller)」技术进步所赐，让我们能享受到低价格、高品质工作时间又长的SSD。各控制器厂商自己独家的「算法」搭配多通道存取（将资料同时从数个Flash区块进行读写），并结合「磨损平衡技术」（以演算的方式将资料平均的写入SSD里面每一个区块，避免某频繁的被写入造成提早结束寿命，算法愈好资料分散愈平均，Flash颗粒寿命也愈长）。

　　而「多通道写入」与「磨损平衡技术的演算就考验了控制器厂商的功力，也决定了SSD的寿命与效能。然而，这样独家「算法」需要存储于内存，而控制器往都需要整合先进制程的内存。所以控制器芯片单价都很，为了做好成本管控，控制器芯片内内存可靠度的检测与修复相当重要。

　　为因应这些挑战，厚翼科技的Brains提供了多样测试算法、具备系统芯片(SoC)内内存自动分群机制、支援内存多时脉输入BIST电路自动整合、全速(At-Speed)测试、根据内存功率消耗资讯做分群与顺序编排和可程式化选择测试算法等功能，并且提供人性化GUI介面和命令模式(Command Mode)等两种操作方式，使用者能轻易产生面积最小且测试时间短的BIST电路，

　　其全速(At-Speed)测试可以满足控制器对于内存测试速度上的要求。此外，如果控制器供应商有自己的内存测试算法，控制器供应商可供应商可以预先在Brains中埋入算法，使自有的可以透过这些埋入算法组成要素形成自有的内存测试算法。而且，Brains更允许使用者在芯片Tape-Out后，仍可依需求拆解重组算法组成要素，重新编修出更符合需求的测试算法及测试顺序改善测试效能。

　　另外，该公司也提出了HEART (High Efficient Accumulative Repair Technology)，该技术是基于Brains的检测结果进行内存修复工程。HEART采用累加式(Accumulative)内存修复技术，让整体的内存修复技术可以做到弹性化的重复修复，HEART的累加式修复技术可以针对高单价与靠度需求极高的控制器提供完整的内存修复方案，大幅升良率、降低成本。

　　在控制器的供应商日益增多，如何降低成本提升产品价格竞争力是控制器供应商关注的议题。厚翼科技Brains和HEART提供许多标准界面如IJTAG、JTAG、IEEE1149.1与Basic，和弹性化的内存测试与修复功能，让使用者在最短测试时间内完成控制器内的内存测试与修复，提高产品竞争力。

Brains和HEART的测试架构。