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快速的发展与巨大的成长空间，亟需电晶体的高速率与低功耗、容量增大，缩小製程等不停向前发展，如何有效控制研发时程及成本，成为晶圆厂、晶片商、电子设计自动化（EDA）工具等面临更严峻的挑战。
EFlash BIST是一个客制化的IP，此客制化的EFlash BIST IP将可以大幅度的缩短EFlash的测试时间
记忆体缺陷成为影响晶片良率的变因之一，因此记忆体测试解决方案的重要性也与日俱增，尤其是车用电子及物联网(IoT)的相关产品，更需要内建自我测试技术(MBIST)。
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